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表面自動電阻率測試儀在基本表的基礎(chǔ)上，通過增加控制轉(zhuǎn)換、輸入過流保護，精密分流器、精密儀表放大器，實現(xiàn)直流電流（DC-μA.mA）的j確多量程測量。

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工業(yè)方阻電阻率測試儀采用范德堡測量原理能解決樣品因幾何尺寸、邊界效應、探針不等距和機械游移等外部因素對測量結(jié)果的影響及誤差，提供通訊接口，PC軟件數(shù)據(jù)處理及數(shù)據(jù)分析.中文或英文語言版本.

導電電阻率測試儀在基本表的基礎(chǔ)上，通過增加控制轉(zhuǎn)換、輸入過流保護，精密分流器、精密儀表放大器，實現(xiàn)直流電流（DC-μA.mA）的j確多量程測量。

方阻電阻率測試儀采用范德堡測量原理能解決樣品因幾何尺寸、邊界效應、探針不等距和機械游移等外部因素對測量結(jié)果的影響及誤差，提供通訊接口，PC軟件數(shù)據(jù)處理及數(shù)據(jù)分析.中文或英文語言版本.

物體表面導電電阻率測試儀在基本表的基礎(chǔ)上，通過增加控制轉(zhuǎn)換、輸入過流保護，精密分流器、精密儀表放大器，實現(xiàn)直流電流（DC-μA.mA）的j確多量程測量。

四探針方阻電阻率測試儀采用范德堡測量原理能解決樣品因幾何尺寸、邊界效應、探針不等距和機械游移等外部因素對測量結(jié)果的影響及誤差，提供通訊接口，PC軟件數(shù)據(jù)處理及數(shù)據(jù)分析.中文或英文語言版本.硅片電阻率測量的標準（ASTM F84）及國標設(shè)計制造；GB/T 1551-2009 《硅單晶電阻率測定方法》、GB/T 1552-1995《硅、鍺單晶電阻率測定直流四探針法》.